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  • 激光顆粒計(jì)數(shù)器
    激光顆粒計(jì)數(shù)器型號(hào)：AccuSizer 780 A7000 APS 全自動(dòng)顆粒計(jì)數(shù)/粒度分析儀，單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)（Single Particle Optical Sizing，SPOS），檢測(cè)范圍： 0.5 μm – 400 μm。
    更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Nicomp N3000激光納米粒度儀
    激光納米粒度儀：專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測(cè)范圍：0.3nm-10.0μm。
    更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp N3000
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • zeta電位及粒度分析儀
    zeta電位及粒度分析儀：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Nicomp Z3000 Zeta粒度及zeta電位分析儀
    粒度及zeta電位分析儀工作原理： 粒度檢測(cè)： 動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測(cè)：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Nicomp Z3000 Zetazeta電位分析儀測(cè)粒徑
    zeta電位分析儀測(cè)粒徑工作原理： 粒度檢測(cè)： 動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測(cè)：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
    現(xiàn)在聯(lián)系
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