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  • Z3000審計最終粒度儀
    審計最終粒度儀:專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案,工作原理:動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS),檢測范圍:0.3nm-10.0μm。
    更新時間:2024-08-26型號:Z3000
    現(xiàn)在聯(lián)系
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