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  • Nicomp Z3000 ZetaZeta電位與粒徑分析儀
    專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析 儀器型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta電位/納米粒度分析儀 工作原理： 粒度檢測(cè)： 動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測(cè)：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
    現(xiàn)在聯(lián)系
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