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  • AccuSizer 780 A7000 APS大乳粒分析儀
    大乳粒分析儀工作原理：?jiǎn)晤w粒光學(xué)傳感技術(shù)（Single Particle Optical Sizing，SPOS）,檢測(cè)范圍： 0.5 μm – 400 μm
    更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：AccuSizer 780 A7000 APS
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • PSS光阻法粒度儀
    PSS光阻法粒度儀：專(zhuān)為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測(cè)范圍：0.3nm-10.0μm。
    更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Nicomp Z3000 ZetaZETA電位分析儀
    ZETA電位分析儀工作原理： 粒度檢測(cè)： 動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測(cè)：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Nicomp 380 N3000納米激光粒度儀
    納米激光粒度儀：專(zhuān)為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測(cè)范圍：0.3nm-10.0μm。
    更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp 380 N3000
    現(xiàn)在聯(lián)系
  • Nicomp Z3000 ZetaZeta電位與粒徑分析儀
    專(zhuān)為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析 儀器型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta電位/納米粒度分析儀 工作原理： 粒度檢測(cè)： 動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測(cè)：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
    現(xiàn)在聯(lián)系
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